表面粗糙度參數(shù)介紹_Rz(ISO)-1984

Rz(ISO)-1984-定義

?從數(shù)學(xué)上來說，Rz(ISO)是在一個(gè)取樣長度內(nèi)的5個(gè)*高峰的平均值和5個(gè)*低谷的平均值的疊加。

Rz(ISO) - ISO 4287 - 1984

Rz(JIS) - JIS B 0601 -1994

過去也被稱為“十點(diǎn)高度”參數(shù)

應(yīng)用

檢測表面*高峰到*低谷的幅值，與此同時(shí)也會(huì)盡量減小怪異的或虛假的特征對結(jié)果的影響。

在實(shí)際使用中，除了它的局限性以外，它幾乎可以應(yīng)用于所有高質(zhì)量的表面。

限制

參數(shù)Rz (ISO) 的目的是為了給極限峰谷值參數(shù)（例如Rt、Rp和Rv）提供更大的穩(wěn)定性。

這個(gè)參數(shù)的穩(wěn)定性有很多問題，因?yàn)樗趩蝹€(gè)采樣長度內(nèi)需要識別5個(gè)峰值和5個(gè)谷值。

然而，在實(shí)踐中，這僅僅發(fā)生在表面具有非常規(guī)則特性的情況 - 在這種情況下，其它平均值參數(shù)Ra、Rc和當(dāng)前使用的Rz (ISO)通常會(huì)有更好的重復(fù)性和穩(wěn)定性。

歷史

峰值參數(shù)是由前蘇聯(lián)和前德國制定并推廣的，因?yàn)樗麄冃枰褂眠@些參數(shù)來推進(jìn)當(dāng)時(shí)處于**地位的光學(xué)技術(shù)。

然而平均參數(shù)如 Ra、Rq是由英國、 美國及其他歐洲國家制定和推廣的，用于測量與分析表面粗糙度。這也是基于測針式粗糙度儀器的發(fā)明和發(fā)展而產(chǎn)生的。

Rtm – 多個(gè)取樣長度中*大峰谷值的平均值，通常評估5個(gè)取樣長度的平均值。等同于Rz (ISO) (ISO 4287 - 1997術(shù)語)。

Rz (ISO) - ISO 4287 – 1984 是在一個(gè)取樣長度中5個(gè)*高峰的平均值和5個(gè)*低谷的平均值 - 這等同于Rz (JIS) (JIS B 0601-1994)，Rz (JIS)是優(yōu)選名稱。這個(gè)參數(shù)也被稱為“十點(diǎn)高度”參數(shù)。

Rz – 工業(yè)非標(biāo)準(zhǔn)定義（在1997年之前的） 是在原始輪廓（未濾波）的整個(gè)評價(jià)長度內(nèi)5個(gè)*高峰和5個(gè)*低谷的平均值。這個(gè)參數(shù)沒有相等的現(xiàn)代參數(shù)名稱，也就是說從來沒有成為過ISO參數(shù)！*初的時(shí)候，它經(jīng)常被用來評價(jià)非常短的未濾波表面。然而這參數(shù)卻有很多問題（例如：在評價(jià)長度中必需要有5個(gè)峰和5個(gè)谷）。

我們更推薦使用Pt參數(shù)來評價(jià)非常短的未濾波表面。